ホーム > 研究会－ODC分析研究会
ODC分析研究会
設立主旨
日本の高い品質のものづくり文化を根底から支える品質管理や品質保証の分野において、検証結果の欠陥分析は重要な技術テーマです。旧来より品質管理において「欠陥」は、除去する対象だけでなく、品質の向上を実現する種として重要視されています。しかし欠陥分析は、日本の企業群や組織でさまざまな取り組みが行われている結果、統一された分析技法の定着を阻害しています。分析技法が標準化されていないことで、「欠陥」そのものでなく欠陥の除去技術や製品の品質評価方法などが組織の壁を越えて議論され難くなっています。これらを解決するためには、欠陥分析に関係する用語や欠陥を分類する属性を統一し、共通の言語で品質を語ることができる場を提供することが必要です。「ODC （Orthogonal Defect Classification、直交欠陥分類）分析研究会」は、企業や組織の枠組みを超えて欠陥分析の議論や研究を行い、その成果を、ものづくりを行う企業に提供し、日本の産業界の発展に貢献して参ります。
運営委員
（敬称略、順不同）
- 委員長：佐々木方規 （株式会社ベリサーブ）
- 委 員：小島 義也 （エプソンアヴァシス株式会社）
杉崎 眞弘 （SUGIシステムズエンジニアリング）
武田 匡広 （オリンパス株式会社）
森 龍二 （株式会社ベリサーブ）
山崎 隆 （ベレーベント）
第1期
開催要領
| 参加対象 募集概要 |
【参加条件】※下記「分析パターン」はODC分析研究会として公開します。 注意事項：欠陥情報は、機密事項については必要ありません。 |
| 参加費 | 無料（ただし、研究会会場までの交通費、交流会費などはご自弁ください。） |
| 活動について |
2017年10月～2018年3月
|
| 開催場所 | 日本科学技術連盟 東高円寺ビル （東京都杉並区高円寺南 1-2-1） |
| 募集人数 |
正会員を募集します、15名前後 (1組織からの参加は2名まで（運営委員を除く）) |
| 開催日 | 第1回 2017年10月16日（月）13:30～16:30 （第1期キックオフ） 、その後・交流会を予定 |
| 募集期間 | 募集開始日～2017年9月20日（火） |
| 申し込み方法 |
「ODC分析研究会会則」を必ずお読みいただき、主旨にご賛同いただけましたら、お申込手続きください。
※申込は先着順ではございませんが、募集定員になり次第、締め切らせていただきます。 |
| 申し込み先 | 一般財団法人日本科学技術連盟 ODC分析研究会担当 E-mail：sqip＠juse.or.jp |
第1期 年間スケジュール（予定）
※ 原則として隔月／1回開催予定です。
| 回数 | 開催日 | 内容 |
| 第1回 | 2017年10月16日（月） 13:30～16:30 （予定） | 第１期キックオフ |
| 第2回 | 2017年12月14日（木） 13:30～16:30 （予定） | 討議 |
| 第3回 | 2018年2月19日（月） 13:30～16:30 （予定） | 討議 |
| 第4回 | 2018年3月（日程は後日決定） | 研究成果発表会 |
「ODC」については、以下のWeb資料をご参照ください
- 山崎 隆 氏：ODC 分析による欠陥除去と品質の成熟度可視化～医療機器の安全性・高品質性を担保するために～、独立行政法人情報処理推進機構（IPA）、2014
https://www.ipa.go.jp/files/000040829.pdf - 小島 義也 氏：ODC分析による設計品質改善の取り組み、独立行政法人情報処理推進機構（IPA）、2016
http://www.ipa.go.jp/sec/reports/20170302.html#73 - 森 龍二 氏：ODC（直交欠陥分類）概説。JaSST ソフトウェアテストシンポジウム 2015
http://jasst.jp/symposium/jasst15tokyo/pdf/A5-1.pdf - IBM：Orthogonal Defect Classification v 5.2 for Software Design and Code、IBM、2013
http://researcher.watson.ibm.com/researcher/files/us-pasanth/ODC-5-2.pdf
