第47回 信頼性・保全性シンポジウム

電子デバイスの信頼性は、高集積化によるナノサイズ化・量子化、新しい材料の導入、電気的・機械的ストレスの増大、システム化、また、パワーデバイスにおける従来にない高電界、発熱の影響, フォトニクスの導入など、旧来の電子デバイスに対する信頼性の考え方では対処できず、新しい信頼性の考え方に基づく取組が必要となってきています。
統計学的、一定故障率を基本とする米軍規格のMIL-HDBK-217F(1991年)は1995年以降モデル改訂が無くなり、米国陸軍は誤った信頼性予測を引き出す可能性があるという理由で1996年に使用を中止しました。この間、故障物理を基本とする信頼性評価の重要性の認識が高まり、例えば、IEEE 14131（2002年）は、故障物理を基本とする信頼性の考え方、信頼度予測手法を提案しています。
しかし、故障物理に基づく信頼性評価においても、電子デバイス技術の発展による新しい材料の導入、縮小化によるナノサイズの物理、3D等の構造変化、高密度システム化、パワーデバイス及びフォトニクスデバイスなどの新しいデバイスの台頭に伴い、基本となる故障メカニズム、分布の見直し、また、個別部品の相互作用も含めたシステムトータルの信頼性評価の必要性など、信頼性の評価、予測、保全等における新たな変化、進展が見られます。
本講演では、電子デバイスの信頼性の考え方の歴史的変遷も含め、電子デバイス技術の発展に伴い故障物理を基本とする信頼性の考え方のパラダイムシフトについて述べます。

1971年3月 東京大学工学系研究科博士課程修了 工学博士
1971年4月～2009年3月 電気通信大学講師、助教授、教授、理事兼副学長。この間、ドイツ・フランホーファ応用固体物理研究所（フンボルト財団研究生）、オランダ・アモルフ研究所(文部省短期在外研究)研究留学。
2009年3月 電気通信大学定年退職。 電気通信大学名誉教授。
2010年～2017年 日本科学技術振興機構プログラムオフィサー。

外部学会活動等（現在）
・日本学術会議連携委員
・応用物理学会フェロー
・日本電子部品信頼性センター 理事、同センター故障物理研究委員会委員長
・日本科学技術連盟 実践！信頼性・品質技術研究会委員
・日本信頼性学会編集委員
・カシオ科学振興財団選考委員
・小澤・吉川記念エレクトロニクス研究助成基金運営委員
・横幹連合理事 （2017年4月から）
・(株)プラスワッチ技術顧問
その他

著書
・電子デバイス (朝倉書店) 単著
・電子材料ハンドブック (朝倉書店)編集及び分担執筆
・イバッハ・リュート著 固体物理学（丸善）共訳
・新版：信頼性ハンドブック（日本信頼性学会） 分担執筆
・JIS用語集（基本用語、LSI用語）編集及び分担執筆
その他

飛行機による“人”や“物”の移動は、将来にわたってグローバル規模で増え続けることが予想されています。講演者らは、空の移動をより安全・安心にするため、そしてCO2や騒音などの排出を抑えて地球の環境を守るため、“人と地球にやさしい”飛行機やジェットエンジンのシステム技術開発を行っています。MEE（More Electric Engine、エンジン・システム電動化）は、エネルギ利用の最適化によって飛行機の燃料消費を節約するとともに、シンプル・分散・最適化などの特徴を活かして飛行機の信頼性・安全性向上に貢献します。ここでは、MEEを中心に、未来の空につながる飛行機やエンジンの技術開発の取組みを紹介します。

講演者紹介
　森岡 典子 氏
　株式会社IHI 航空・宇宙・防衛事業領域 技術開発センター エンジン技術部
　将来技術プロジェクトグループ担当部長

工学部卒業後、石川島播磨重工業株式会社（現、株式会社IHI）に入社。航空機用エンジンの設計、研究開発に従事し、2010年ころからシステム電動化研究を開始。
2012年にMEAAP（More Electric Architecture for Aircraft and Propulsion；航空機・エンジン電動化システム研究会)を立ち上げ、国内外・産学官連携の取組みを始める。2016年より航空・宇宙・防衛事業領域技術開発センターエンジン技術部将来技術プロジェクトグループ担当部長。博士（工学）。