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第40回 信頼性・保全性シンポジウム

JULY 15,16. 2010 The 40th Symposium on Reliability and Maintainability

テーマ:環境と信頼性・安全性の両立に向けて


New!第40回記念企画!プレセミナー(7/14開催)
シンポジウムの前日に開催するスペシャル企画です。
トピックスを2分野4事例のプログラムで構成しました。



  第40回信頼性・保全性シンポジウム推奨報文投票のご案内

開催概要


テーマ

環境と信頼性・安全性の両立に向けて

開催日

2010年7月15日(木)〜16日(金)
☆第40回記念企画!“プレセミナー” 2010年7月14日(水)開催!

会場

本会場:日本教育会館
東京都千代田区一ツ橋2-6-2  道案内専用電話:03-3230-2833
(会場への地図はこちらから)

プレセミナー会場:財団法人日本科学技術連盟 本部ビル

主催

財団法人日本科学技術連盟

後援

日本信頼性学会

協賛
(順不同)

(社)情報処理学会 (社)電子情報通信学会 (社)電気学会 (社)日本品質管理学会
(社)日本オペレーションズ・リサーチ学会 (社)計測自動制御学会
(社)日本機械学会 (社)日本航空宇宙学会 (社)日本航空技術協会
(社)日本自動車部品工業会 (財)日本電子部品信頼性センター
(社)自動車技術会 (社)応用物理学会 IEEE Reliability Society Japan Chapter

プログラム概要

詳細はこちら

組織委員 シンポジウムの企画・運営に携わる委員 詳細はこちら
参加費
(予価・税込)
プレセミナー(14日) 5,250円
おすすめ!プレセミナー(14日)と本会議(15日・16日)のセット
一般 ※45,150円のところ→ 42,000円
日科技連賛助会員(後援・協賛学協会会員) ※43,050円のところ→ 39,900円
本会議(15日・16日)
一般 39,900円
日科技連賛助会員(後援・協賛学協会会員) 37,800円
学生(学生割引) 5,250円
報文発表者(本人のみ) 5,250円
報文発表者(学生) 2,100円
共同執筆者(発表報文1件につき1名まで) 18,900円
2010年度RDT研究会・R-Map実践研究会・SQiP研究会会員 18,900円
「信頼性技術者」登録者 18,900円

プログラム概要


詳細はこちら

7/15
(木)
A会場(第1会議室)
基調講演「環境と信頼性・安全性の両立に向けて」佐藤 吉信 氏東京海洋大学教授 海洋工学部 海事システム工学科
前年度授賞報文表彰式
特別講演「三洋電機における環境戦略と信頼性・安全性」本間 充 氏三洋電機株式会社 代表取締役副社長
A会場 B会場 C会場 展示会場
【Session 1】
電子部品・材料の信頼性(1)
【Session 3】
データ解析
【Session 5】
最新信頼性・安全性解析(展示企業の発表)
展示コーナー
【Session 2】
電子部品・材料の信頼性(2)
【Session 4】
品質工学と信頼性

【Session 6】
機械系

7/16
(金)
【チュートリアル講演】
日本のものづくりとサービスの革新を発信!
豪華な講師陣!
【Session 7】
信頼性設計
【Session 10】
保全・設備診断
展示コーナー
【チュートリアル発表】
日本信頼性学会「故障物性研究会」信頼性時代に向けた信頼性技術
【Session 8】
安全性
【パネル討論】
日本信頼性学会「故障物性研究会」信頼性時代に向けた信頼性技術と部品調達
【Session 9】
FMEA・FTA

基調講演


テーマ:「環境と信頼性・安全性の両立に向けて」
佐藤 吉信 氏(東京海洋大学 教授 海洋工学部 海事システム工学科・組織委員会委員長)




特別講演


テーマ:「三洋電機における環境戦略と信頼性・安全性」
本間 充 氏(三洋電機株式会社 代表取締役副社長)




チュートリアル講演


日本のものづくりとサービスの革新を発信!
これからの日本のものづくり、サービスの課題解決に貢献できるリーダーと信頼性技術者の育成

【趣旨】
●日科技連では、変化の激しい経営環境において、特に日本のものづくりと信頼性について、「次世代信頼性技術研究委員会」を設置し、産学協同からなるメンバーで研究を重ねてきました。
●この約1年間にわたり、都合4回の委員会を開催し、「日本のものづくりとサービス」の現状について、現場第一線を熟知し、今後のあり方に関心・造詣が深い委員会メンバーのコミットメントを得て、真摯な議論を進めてきました。
●研究委員会からの成果・提言として、企業・組織の経営者、経営幹部を対象に4月20日に総勢50名のもと特別セミナーを企画いたしました。
●特別セミナーでは、各企業の参加者から多くの忌憚ない意見が寄せられました。寄せられた意見も反映しながら、研究委員会で検討を進めましたが、そのアウトプットを本シンポジウムで再度発信し、参加者の双方向のコミュニケーションにより、研究内容を深化、ブラッシュアップし、「変化へ自律的に即応できる人と組織」を基盤とする「日本の今後のものづくりとサービス」の革新へコミットメントしていきたいと考えています。


講演1:「これからの日本のものづくり、サービスのあり方」
宮村 鐵夫 氏(中央大学 教授)

 



講演2:「関西電力の原子力部門における安全文化醸成活動について」
白井 良平 氏(関西電力(株) 執行役員)

 



講演3:「デンソーにおける自動車部品の信頼性向上と技術者の育成」
宮木 正彦 氏((株)デンソー 常務役員)

 




日本信頼性学会「故障物性研究会」によるセッション


【セッション概要】
 日本信頼性学会「故障物性研究会」は、発足以来、現場で発生する電子部品や電子機器の故障問題を議論することで、試験・解析技術の高度化や電子機器の信頼性向上に貢献してきました。しかし、更なる高信頼性化や安全性確保など多様化する時代のニーズに応えるには、新たな知識や高い技術力、そして信頼性の管理が必要となります。本セッションでは、研究会の位置付けや活動目的を明確にした後、部品メーカ、セットメーカ、解析サービス各々の立場から、時代の変化に対応した活動成果や提言について述べます。


第1部 チュートリアル発表

テーマ:「高信頼性時代に向けた信頼性技術」

発表1:日本信頼性学会「故障物性研究会」の活動報告
土屋 英晴 氏 アンデン(株) 岡崎工場 第2品質保証部 部長

 



発表2:コンデンサメーカが創る信頼性
牧野 芳樹 氏 ルビコン(株) 品質保証センター センター長

 



発表3:セットメーカの部品実装における信頼性の作り込み
平山 良彦 氏 セイコーインスツル(株) 匠モジュール事業部 TM品質保証G

 



発表4:調達部品の試験・解析(1)試験・解析サービスの役割とセットメーカへの提言
高森 圭 氏 沖エンジニアリング(株) 信頼性技術事業部 故障解析グループ グループ長

 



発表5:調達部品の試験・解析(2)高信頼性を実現するセットメーカの試験・解析
本山 晃 氏 パナソニック電工解析センター(株) 基板解析事業部 主幹

 



第2部 パネル討論

【論点】
 本パネル討論では、高い信頼性を要求される電子機器に搭載される電子部品の調達に関して現状を把握し、高信頼性時代に向けた指針を得ることを目標に議論を進めます。最初にセットメーカが「どのような観点で電子部品を調達しているか」をまとめ、次に調達部品に評価の問題と解決案について討議します。最後に今後重要になると考えられる「部品メーカとの協力体制」を議論して、今後の課題を整理します。


【コーディネーター】
味岡 恒夫 氏 (株)東レリサーチセンター 東京営業1部 技術部長



【パネラー】


土屋 英晴 氏
アンデン(株) 岡崎工場
第2品質保証部 部長

三ッ石 進 氏
NEC東芝スペースシステム(株) 技術本部
管理グループ、シニアエキスパート

藤本 直伸 氏
三菱電機(株) 鎌倉製作所
宇宙システム部 信頼性技術センター長


太田 周一 氏
(株)リコー 電装ユニットカンパニー
シニアスタッフ

小林 健二 氏
日本電気(株) 品質保証部
エキスパート

牧野 芳樹 氏
ルビコン(株) 品質保証センター
センター長

高森 圭 氏
沖エンジニアリング(株) 信頼性技術事業部
故障解析グループ グループ長

第40回記念企画!“プレセミナー”開催!


シンポジウムの前日に開催するスペシャル企画です。知見と業務の質の向上・現場の信頼性技術のレベルアップ!若手から中堅の技術者に最適なトピックスを2分野4事例のプログラムで構成しました。

プログラム

テーマ1:「カーエレクトロニクス分野の信頼性」
テーマ2:「情報・AV機器分野の信頼性」

開催日時

7月14日(水)13:30〜17:00

場所

財団法人 日本科学技術連盟 本部ビル(東京・渋谷区千駄ヶ谷)

参加費
(税込)

 一般/会員ともに 5,250円 ※本会議とは別料金です。

<お得な「プレセミナー」+「本会議」のセット割引価格>
一般 45,150円のところ 42,000円
会員※ 43,050円のところ 39,900円
※日科技連賛助会員または後援・協賛学協会会員

【趣旨】
 本年、第40回シンポジウム開催を記念し、その前日に、若手及び中堅技術者向けに「プレセミナー」を企画しました。
 ご承知の通り、信頼性技術は実際の事業の中で培われるものであります。しかし、特定の企業に所属している技術者はどうしても情報が偏りがちになります。その為、信頼性保全性シンポジウムのように他社の事例を聞いたり、更には自分の発表に対して、他社の技術者の方から意見を頂くことが非常に重要です。
 しかし、シンポジウムで報告される事例は技術的に深い反面、狭い範囲の事例に過ぎません。  そこで、今回トピックスを2分野4事例用意しました。みなさまの積極的なご参加お待ちしています。

【プレセミナーコーディネーター】
門田 靖 氏
(株)リコー 品質本部 品質プロセス革新センター兼 製品安全性技術室 室長(信頼性・保全性シンポジウム組織委員)



テーマ1:「カーエレクトロニクス分野の信頼性」

【セッション概要】
ご存知の通り、自動車はいまだ日本の基幹産業であり、且つ信頼性技術をリードする重要な事業領域です。近年のハイブリッド自動車のトラブルに見られるように、自動車は、機械と言うよりも、電子機器といったほうが適切である場合が増えてきたのではないでしょうか? その為、自動車における信頼性の考え方が、エレクトロニクス中心に移ってきており、現在部品メーカーと自動車メーカー間で議論がある事も、是非学んでください。

車載用電子部品の信頼性評価の視点
カーメーカーから観た「車と電子部品」
岩下 健児 氏 日産自動車(株) EV技術開発本部 EVエネルギー開発部 バッテリー実験グループ 課長補佐

【ききどころ】
実装技術の視点から、開発品質の作りこみ・特に開発上流でのデザインレビューにおける取り組みや部品メーカーとのやり取りから得られた知見を基にポイントを紹介します。



半導体デバイス高信頼性の条件
車載デバイスの品質レベル達成のための人材力
瀬戸屋 孝 氏 (株)東芝セミコンダクター社 品質推進センター センター長

【ききどころ】
10ppmといった高品質を要求される車載半導体デバイスを、長年供給されてきた経験を基に、高品質達成の為のアプローチをご紹介します。徹底的な高品質のための仕組み・自動化したうえで、人間の力が不可欠です。



テーマ2:「情報・AV機器分野の信頼性」

【セッション概要】
情報機器と AV機器は本来、ビジネス用途とコンシューマー用途として、全く別の世界を歩んできた製品ですが、元来情報機器であるパソコン・プロジェクター等は、今や立派な AV 機器でもあり、両分野の垣根が無くなってきていることを示しています。今こそ両分野における信頼性を学びあうべきではないでしょうか。

情報機器の高信頼性確保に向けた取組み
機械の中で、徹底的に材料がいじめられているレーザープリンター
岡本 直樹 氏 富士ゼロックス(株) 研究技術開発本部 基盤技術研究所 チーム長

【ききどころ】
オフィスの静かな環境の中で使用されるレーザープリンターやコピー機は、設置環境からは想像出来ないストレスが機械内部では存在しています。ここでは、そのようなストレスを受ける部品/材料の信頼性について紹介します。



AV機器の高信頼性確保に向けた留意点
AV機器が置かれている意外と知らない過酷な環境
平本 抽 氏 ソニー(株) 品質センター 品質技術室 信頼性解析グループ

【ききどころ】
一般にAV機器が置かれている家庭の中は、意外と埃や湿気が多かったり、腐食性ガスが存在しているなど、悪環境が珍しくありません。ここでは、そのような環境下で、腐食したり、劣化する部品/材料の信頼性について紹介します。




一般研究発表


【Session 1】電子部品・材料の信頼性(1)

1-1 太陽電池モジュールの良品構造解析手法
   村原 大介 氏 沖エンジニアリング(株)

1-2 BGAにおける導電性接着剤の強度
   岡 克己 氏 沖エンジニアリング(株)

1-3 高輝度白色LEDの信頼性向上と評価
   Byungjin Ma氏 韓国電子部品研究院

【Session 2】電子部品・材料の信頼性(2)

2-1 最新型ガスメーターを支える高分子材料技術
   小澤 由規 氏 大阪ガス(株)

2-2 SQUID顕微鏡及びサーマルエミッション顕微鏡を利用した積層パッケージの非破壊検査の試行
   照井 裕二 氏 東芝ナノアナリシス(株)

2-3 装置安定稼動のためのEES適用事例
   高橋 照明 氏 東芝インフォメーションシステムズ(株) 

【Session 3】データ解析

3-1 信頼性に関わるデータ解析へのSN比の応用
   松岡 敏成 氏 三菱電機コントロールソフトウェア(株)

3-2 Copulaの多重従属な競合リスクモデルにおける識別可能性問題への応用
   米山 寛二 氏 兵庫県立大学

3-3 計算統計学を用いたワイブル分布型加速モデルに基づく信頼性解析
   貝瀬 徹 氏 兵庫県立大学

【Session 4】品質工学と信頼性

4-1 信頼性テストのパフォーマンス向上に関する試み
   長谷部 光雄 氏 のっぽ技術開発研究所

【Session 5】最新信頼性・安全性解析(展示企業の発表)

5-1 Relex Reliability Studio 2009
   原 良孝 氏 テックサポートマネジメント(有)

5-2 HALT最新情報2010  ―世界へ拡がるHALT/IEEE ASTRでの発表事例 ―
   川上 雅司 氏 (株)東陽テクニカ

5-3 原因究明・信頼性試験のアウトソーシング
   小林 吉一 氏 楠本化成(株)

【Session 6】機械系

6-1 構造損傷の拡大評価に対するパーコレーション・モデルの応用
   伊藤 誠一 氏 宇宙航空研究開発機構

6-2 interface-notch先端近傍の弾塑性ひずみ簡便評価法の提案
   林 健治 氏 トピー工業(株)

6-3 スプライン用高潤滑グリースの開発
   分根 聖司 氏 (株)デンソー

【Session 7】信頼性設計

7-1 「品質問題」を無くす設計と設計審査No,2(仕組み・マネジメント改善、人材育成)
   本田 陽広 氏 (株)デンソー

7-2 統合的設計管理手法の研究(その3)―製品設計現場における適用事例の紹介―
   呉 宏堯 氏 (株)IHI

7-3 スライドドアガイドローラ統合化による開発期間短縮の実現〜DRBFMと多変量解析法の併用により的確な検証・評価〜
   尾子 禎宏 氏 アイシン精機(株)

7-4 新製品開発設計におけるコンフィギュレーション・マネジメントの研究
   杉野 敦 氏 中央大学大学院 

【Session 8】安全性

8-1 ソフトウェアに対する安全度レベル計算の一手法
   藤原 隆次 氏 ビジネスキューブ・アンド・パートナーズ(株)

8-2 ETCシステム開発における製品安全設計の推進
   森 康 氏 三菱電機(株)

8-3 ソフトウェア製品の安全性向上のためのリスクマネジメント手法
   河合 一夫 氏 (株)プロムス

8-4 状態遷移モデルに基づく自動車ステアバイワイアシステムの不全事象率の推定式の検討
   櫛引 豪 氏 (株)日本機能安全

【Session 9】FMEA・FTA

9-1 RFMEA(Risk Failure Mode and Effect Analysis)による点検業務プロセスのリスク分析
   高 明淑 氏 (株)東芝

9-2 優先ANDゲートを含むフォールトツリーの解析
   阪田 隆司 氏 京都大学大学院

9-3 順序依存故障論理をもつ非コヒーレントシステムのリスク解析
   佐藤 吉信 氏 東京海洋大学

【Session 10】保全・設備診断

10-1 遠隔監視システムを用いたガスタービンプラントの異常診断
   三上 尚高 氏 三菱重工業(株)

10-2 RCM解析における保全方式選定の研究―劣化パターンのモデル化と予測―
   里見 亮彦 氏 中央大学大学院

10-3 運用・保全・工事しやすい配電用変電所システムについて
   糸谷 亮祐 氏 関西電力(株)


展示コーナー


 信頼性に関連する測定機器,試験装置,解析ソフト等の展示コーナーを併設いたします。
 出展会社の方々と自由にやり取りいただけます。

【展示会場】

7月15日(木) 12:00〜17:00
7月16日(金) 10:00〜15:00

【出展会社】

1. テックサポートマネジメント(有)
2. 楠本化成(株)
3. (株)東陽テクニカ
4. (株)日本科学技術研修所
5. (株)日科技連出版社
6. 日本信頼性学会



第39回 信頼性・保全性シンポジウム 推奨報文賞・奨励報文賞


表彰論文の詳細はこちらから


第39回 信頼性・保全性シンポジウム ルポルタージュ


ルポルタージュのの詳細はこちらから


お申し込み


【お申込み方法】

 「参加申込書」をダウンロードいただき、必要事項をご記入のうえ、電子メールの添付ファイル、FAX、郵送のいずれかで下記宛にお申し込みください。

※参加申込書受理後、開催の約1ヶ月前に開催案内、プログラム、参加券、請求書等を「連絡担当者」様宛に送付いたします。
※参加費のお支払いについての詳細は、請求書に記載してございますが、原則として請求書発行後2ヶ月以内に、指定の銀行口座または郵便振替口座にお振り込みください。なお、振込手数料は貴社にてご負担ください。
※参加費は,当日欠席されてもお返しいたしかねますので、ご了承ください。
※「発表報文集」のみの頒布はいたしません。


【お申込み先】

財団法人日本科学技術連盟 セミナー受付グループ
〒151-0051東京都渋谷区千駄ヶ谷5-10-11
TEL:03-5379-1233   FAX:03-3225-1814  E-mail:regist@juse.or.jp

【内容についてのお問い合せ先】

財団法人日本科学技術連盟 教育推進部第二課 R&MS担当
TEL:03-5378-9850  FAX:03-5378-9842  E-mail:re-group@juse.or.jp



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