JULY 14,15. 2011　The 41st Symposium on Reliability and Maintainability

参加申し込み受付は終了しました。 たくさんのお申込みありがとうございました。

特別講演
技術が拓く未来社会　小惑星探査機「はやぶさ」がもたらしたもの

日本中に感動を与えた小惑星探査機「はやぶさ」の地球帰還。
「はやぶさ」プロジェクトの構想から、設計・開発・運用までかかわられた中心人物のお一人、久保田　孝 氏（宇宙航空研究開発機構）をお招きし、「はやぶさ」に用いられた最新技術、未知領域へのチャレンジ、100社を超える企業からなるプロジェクトでの苦心談など、数々の試練をどう克服して、成功に導いていったのかについてご講演いただきます。

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開催概要

開催日程 2011年7月14日(木)〜15日(金) 会場 日本教育会館（東京・千代田区一ツ橋） テーマ イノベーションと信頼性 ―国際的協調と分業― 組織委員 シンポジウムの企画・運営に携わる委員 　組織委員一覧  後援 日本信頼性学会 協賛 一般社団法人情報処理学会　社団法人電子情報通信学会　社団法人電気学会 社団法人日本品質管理学会　一般社団法人日本機械学会 社団法人日本オペレーションズ・リサーチ学会　公益社団法人計測自動制御学会 社団法人日本航空宇宙学会　社団法人日本航空技術協会　社団法人日本自動車部品工業会 財団法人日本電子部品信頼性センター　社団法人自動車技術会　社団法人応用物理学会 IEEE Reliability Society Japan Chapter　LSIテスティング学会　独立行政法人製品評価技術基盤機構 参加費（予価・税込） 一般　 39,900円 日科技連賛助会員（後援・協賛学協会会員）　 37,800円 学生（学生割引）　 5,250円 報文発表者（本人のみ）　 5,250円 報文発表者（学生）　 2,100円 共同執筆者（発表報文１件につき１名まで）　 18,900円 2011年度RQ研究会・R-Map実践研究会・SQiP研究会会員　 18,900円 「信頼性技術者」登録者　 18,900円

プログラム

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7/14(木) Ａ会場 ●【基調講演】イノベーションと信頼性―国際的協調と分業― 木村　忠正 氏　電気通信大学 名誉教授 ●前年度授賞報文表彰式 ●【特別講演】技術が拓く未来社会小惑星探査機「はやぶさ」がもたらしたもの 久保田　孝 氏 宇宙航空研究開発機構 教授 宇宙科学研究所 宇宙探査工学研究系 月惑星探査グループ 特有バスグループ長 東京大学 教授 大学院工学系研究科 Ａ会場 Ｂ会場 Ｃ会場 展示会場 【Session 1】 半導体の故障解析と信頼性評価 【Session 3】 機械の評価と設計 【Session 5】 最新信頼性・安全性解析（展示企業の発表） 展示コーナー 【Session 2】 電子部品の信頼性評価 【Session 4】 信頼性設計 【Session 6】 品質工学の活用 7/15(金) 【Session 7】 材料の評価と解析 【Session 8】 信頼性解析 【Session 10】 ヒューマンファクター 展示コーナー 【チュートリアル発表】 信頼性技術で支えるコストと製品安全 故障の予兆解析と信頼性・安全性の造り込み 【特別セッション】 次世代信頼性安全性情報システムRSIS （Reliability and Safety Information System） コマツ、富士ゼロックス、東芝、電気通信大学による特別セッション 【Session 11】 安全性とリスク解析 【Session 9】 コンピューター支援とソフトウェア 【Session 12】 保全性と品質管理

特別講演

技術が拓く未来社会　小惑星探査機「はやぶさ」がもたらしたもの 講演の“ききどころ”はこちらから 久保田　孝  氏 宇宙航空研究開発機構  教授　宇宙科学研究所宇宙探査工学研究系 　　　　　　　　　　　　　　　　月惑星探査グループ特有バスグループ長 東京大学　教授　大学院工学系研究科 日本中に感動を与えた小惑星探査機「はやぶさ」の真実に迫る！その1 （信頼性News Vol.11-16／2011年5月16日） 日本中に感動を与えた小惑星探査機「はやぶさ」の真実に迫る！その2 （信頼性News Vol.11-17／2011年5月23日）

基調講演

イノベーションと信頼性　― 国際的協調と分業 ― 講演の“ききどころ”はこちらから 木村 忠正 氏 電気通信大学　名誉教授 科学技術振興機構　プログラムオフィサー 信頼性・保全性シンポジウム組織委員会委員長

特別セッション

次世代信頼性安全性情報システムRSIS（Reliability and Safety Information System） コマツ、富士ゼロックス、東芝、電気通信大学　による特別セッション 品質管理学・信頼性工学・安全性工学と高度情報通信技術の「知」を融合 RSISに基づく高品質・高信頼性そして安全なモノづくりのための標準プロセスを創生！ 本特別セッションは品質管理学・信頼性工学・安全性工学と高度情報通信技術の知を融合した次世代信頼性安全性情報システムRSIS（Reliability and Safety Information System）を研究・開発し、RSISに基づく高品質・高信頼性そして安全なモノづくりのための 標準プロセスを創生することにより、 　(1) 顧客への個別対応リスクコミュニケーションを通じた国民の安心安全 　(2) 高精度シミュレーションに基づく高品質・高信頼性新製品開発を通じたわが国産業界の国際競争力強化 　(3) 信頼性工学ならびに安全性工学の情報化時代に即した刷新 などの研究テーマの体系的発信を通じて、世界の産学技術とその理論をリードすることを目的としています。 　このための現時点までの成果を発表し、広く情報交換と意見交換を行います。 コーディネーター・司会： 鈴木 和幸 氏 電気通信大学大学院 教授   ● 趣旨説明　鈴木 和幸 氏 電気通信大学大学院 教授 ● KOMTRAXの概要と活用 　土井下 健治 氏　 　(株)小松製作所 開発本部 商品企画室 ICTグループ 主査 　発表の“ききどころ”はこちらから ● TQMSによる稼働情報の積極的活用 　高野 昌泰 氏 　富士ゼロックス(株) 研究技術開発本部　研究主席 　発表の“ききどころ”はこちらから ●PCヘルスモニタリングによる市場における製品監視の高度化 　西川 武一郎 氏 　(株)東芝 研究開発センター システム技術ラボラトリー 研究主幹 　発表の“ききどころ”はこちらから ●次世代信頼性・安全性情報システムRSISに向けた データ同化による個別リスクコミュニケーションの展開 　横山 真弘 氏 　電気通信大学大学院 情報システム学研究科　社会知能情報学専攻 後期博士課程 　発表の“ききどころ”はこちらから ●情報交換・質疑応答

チュートリアル発表

信頼性技術で支えるコストと製品安全 故障の予兆解析と信頼性・安全性の造り込み 日本信頼性学会・故障物性研究会 部品メーカやセットメーカでの信頼性・安全性の造り込み、信頼性・安全問題を防止する予兆解析技術について、その考え方と進め方、成果、課題を具体事例5件で紹介します。 司会： 井原 惇行 楠本化成(株) エタック事業部 特別顧問 ●故障物性研究会の紹介 ―最近１年間の活動成果と課題― 　土屋 英晴 氏 アンデン(株) 岡崎工場 第2品質保証部 部長 ●信頼性・安全問題の実態と解析技術 　本山 　晃 氏 パナソニック電工解析センター(株) 基盤解析事業部 主幹 ●電子部品・実装における壊れ方の可視化 　井原 惇行 氏 楠本化成(株) エタック事業部 特別顧問 ●電解コンデンサ製造の日本への回帰 　牧野 芳樹 氏 ルビコン(株) 品質保証センター センター長 ●Liイオン2次電池の事故と予防対策 　平山 良彦 氏 セイコーインスツル(株) 　　　　　　　　　　システムアプリケーション事業部　コンシューマ機器統括部 　　　　　　　　　　音響機器部／環境プロダクツ部 品証チーム

ショートプレゼンテーション&ディスカッション

信頼性管理で実現するコストと製品安全 重要性を増す源流志向の管理（部品メーカとの連携） 日本信頼性学会・故障物性研究会 故障物性研究会でセットメーカの信頼性向上を目的に実践的な議論を進めてきた。その中で、今後の信頼性では機能、信頼性・安全、コストをバランスが重要と考え、議論を進めている。今回は重要課題をピックアップし、関連する委員のショート･プレゼンテーションをもとに議論し、問題の掘り下げを行う。   コーディネーター： 土屋 英晴 氏 アンデン(株) 味岡 垣夫 氏 沖エンジニアリング(株) プレゼンター ： 小林 健二 氏 日本電気(株) 三ッ石 進 氏 NEC東芝スペースシステム(株) 井原 惇行 氏 楠本化成(株) 平山 良彦 氏 セイコーインスツル(株) 安達 健二 氏 (株)東芝

展示コーナー

ユーザ、メーカの情報交換、最新の信頼性技術情報の収集に最適です！
・ 先進企業による、信頼性に関する測定機器、試験装置、解析ソフトの展示
・ 公的機関による実例事故品・パネル・映像による紹介
・ 信頼性・保全性・安全性に関する書籍の展示・販売
・ 信頼性を専門とした学会活動を行う国内唯一、国際的にも数少ない研究者・技術者のための活動団体紹介

【展示会場】

7月14日(木)　12:00〜17:00
7月15日(金)　10:00〜15:00

【出展会社】

1.テックサポートマネジメント(有)
2.楠本化成(株)
3.(株)東陽テクニカ
4.(株)トプコンテクノハウス
5.(独)製品評価技術基盤機構
6.日本信頼性学会
7.(株)日科技連出版社

・ 出展企業による、最新信頼性・安全性解析の発表を行います。 ・ 頻発している重大製品事故の状況を鑑み、製品事故の公的な原因究明機関である、製品評価技術基盤機構（NITE）が日科技連が異業種企業と共同で開発した「R-Map（リスク・マップ）手法」を実践的に活用したリスクアセスメントとリコールの関係について発表を行います。

第40回 信頼性・保全性シンポジウム　推奨報文賞・特別賞の表彰

表彰論文の詳細はこちらから

第40回 信頼性・保全性シンポジウム　ルポルタージュ

ルポルタージュの詳細はこちらから

会場案内

会場の詳細はこちらから

お申込み

【お申込み方法】

「参加申込書」をダウンロードいただき，必要事項をご記入のうえ，電子メールの添付ファイル，FAX，郵送のいずれかで下記宛にお申し込みください。

※参加申込書受理後，開催の約1ヶ月前に開催案内，プログラム，参加券，請求書等を「連絡担当者」様宛に送付いたします。
※参加費のお支払いについての詳細は，請求書に記載してございますが，原則として請求書発行後2ヶ月以内に，指定の銀行口座または郵便振替口座にお振り込みください。なお，振込手数料は貴社にてご負担ください。
※参加費は，当日欠席されてもお返しいたしかねますので，ご了承ください。
※「発表報文集」のみの頒布はいたしません。

【お申込み先】

財団法人日本科学技術連盟　セミナー受付グループ
〒151-0051東京都渋谷区千駄ヶ谷5-10-11
TEL：03-5379-1233 FAX：03-3225-1814　E-mail：regist@juse.or.jp

【内容についてのお問い合せ先】

財団法人日本科学技術連盟　教育推進部第二課　41R&MS担当
TEL：03-5378-9850　　FAX：03-5378-9842　　E-mail：re-group@juse.or.jp